X射線熒光光譜儀,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ®,FISCHER的產(chǎn)品介紹：

測量系統(tǒng)擁有先進(jìn)的多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點(diǎn)
的面積，又能大幅加強(qiáng)射線的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測
量超薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析.

帶有三種放大倍率變焦的高像素視頻系統(tǒng)能**地定位樣品，即使是非常細(xì)的線材或者是半導(dǎo)
體微小的接點(diǎn)都能高質(zhì)量地顯示出測量點(diǎn)所在位置。激光點(diǎn)作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品
的快速定位。

 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ®的特征：

帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管，可
選鉬管。*高工作條件： 50kV， 50W
·X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺?br /> 測器
·多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置，測量點(diǎn)約20-40
μm FWHM（半高寬）
·4個(gè)可切換基本濾片
·帶彈出功能的可編程XY平臺
·視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測量位置，十
字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點(diǎn)
實(shí)際大小也在圖像中顯示。

 典型應(yīng)用領(lǐng)域：

測量PCB、引線框架和晶片上的鍍層系統(tǒng)
測量微小工件和線材上的鍍層系統(tǒng)
分析微小工件的材料成分