X射線熒光光譜儀,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD,FISCHER的產(chǎn)品介紹：

 型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這
樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率，從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和極低的檢測下
限。 XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時(shí)可測元
素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD的特征：
·帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。*
高工作條件： 50 kV, 50W
·X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺?br /> 測器
·準(zhǔn)直器： 4個(gè)，可自動切換，從直徑
0.1mm到3mm
·基本濾片： 6個(gè)，可自動切換
·帶彈出功能的可編程XY平臺
·視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測量位置，十
字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點(diǎn)
實(shí)際大小也在圖像中顯示。
·設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)**，符合德國X射
線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

·測量超薄鍍層，例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
·痕量分析，例如按照RoHS，玩具和包材指
令檢測有害物質(zhì)
·高精度黃金和貴金屬分析
·光伏行業(yè)
·測量NiP層的厚度和成分