X射線熒光光譜儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®，F(xiàn)ISCHER的產品介紹：

XDLM測量系統(tǒng)經常用來測量接插件和觸點的各
種底材上的Au/Ni， Au/PdNi/Ni， Ag/Ni或Sn/
Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結構如尖
端或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器
或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品
時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強
度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的特征：

帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口
和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條
件:50KV,50W
X射線探測器采用比例接收器
準直器：固定或4個自動切換， 0.05 x
0.05 mm 到 ? 0.3 mm
基本濾片：固定或3個自動切換
測量距離可在0-80 mm范圍內調整
固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量
位置?？潭染€經過校準，顯示實際測量點
大小。
設計獲得許可，防護**，符合德國X射線
條例第4章第3節(jié)

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的典型應用領域：

大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業(yè)槽液分析
線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點的鍍層
電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
黃金，珠寶和手表行業(yè)