SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀,可實現(xiàn)科研/企業(yè)級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，支持多功能模塊定制化設(shè)計。

概述

       SE-VM 是一款超高精度快速測量光譜橢偏儀，其采用自主研發(fā)的橢偏**技術(shù)，具備 1 雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制技術(shù)，2 透明基底消背反技術(shù) 等**技術(shù)。快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計。

■  高精度橢偏測量解決方案；

■  超高精度、快速無損測量；

■  支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)功能模塊靈活定制；

■  豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。

產(chǎn)品特點

■ 采用高性能進口復(fù)合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)，可支持?jǐn)U展紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)

產(chǎn)品應(yīng)用

       SE-VM廣泛應(yīng)用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應(yīng)用,實現(xiàn)光學(xué)薄膜、納米結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。

ME-L

ME-Mapping

SE-VM

SE-VE

SE-PV

SE-VF

SE-i

SR-i

SR-M

RT-V

SR-Mapping

SR-C

XE

代 理日 本各類工業(yè)品：日本SAN-EI TECH三英，MUSASHI武藏，Nordson諾信EFD，IEI巖下，aicohsha愛工舍ACM（特殊立式攪拌機），KLEENTEK可濾特，ASAHIKASEI旭化成，TAGAWA十川，YODOGAWA淀川電機，MALCOM馬康，USHIO牛尾，SHOWA DENKI昭和電機，TSUBAKI椿本，morite茉 莉特，KIKUSUI菊水，HOZAN寶山，TRUSCO中山，cedar思達，MEISEI邁澤（電熱剝線器）、SANKO山高（金屬探測器、膜厚儀）、TAKASAGO高砂制作所 （直流電源）MITSUBISHI三菱 （UPS電源、PLC自動化）
CCS光源（視覺光源、檢查光源）、Tsubosaka壺坂（燈箱、光度計、輝度箱、光源）、POLARION普拉瑞（探照燈、HID強光燈、檢查燈）AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎（金鹵燈、HID燈、UV燈）
OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀、相位差測試儀、粒度儀）、LUCEO魯西歐（表面應(yīng)力儀、偏光應(yīng)力儀）
KYOWA共和（應(yīng)變片、壓力傳感器）、ONOSOKKI小野測器（傳感器、檢測儀）
CKD（氣動元件、電缸）、FUJIKURA藤倉（單向閥、泄壓閥、摩擦氣缸）
TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)（粘度計）、ASKER高分子計器（橡膠硬度計、試驗機）SK新瀉精機（水平尺、水平測量儀器）SKSATO佐藤（溫度計、溫度記錄儀）、上海一恒儀器 （恒溫箱、烘箱、）、TECLOCK得樂（硬度計、千分表）、AND愛安得（電子天平、工業(yè)天平）、KEM京都電子（水分儀、自動電位滴定儀）
TOHNICHI東日（扭力扳手、螺絲刀）KANON中村（電動螺絲刀、扭力工具）
Heishin兵神（泵、點膠機）、KOKUSAN科庫森離心機、YUASA湯淺（柔性屏彎折試驗機）、
SIMCO思美高，SSD西西蒂，DIT東日技研，KASUGA春日，TRINC高柳（靜電儀器設(shè)備）、Kanetec強 力（磁力設(shè)備、高斯計）
ASONE亞速旺（實驗室儀器、車間穿戴裝備）、SAKURAI櫻井（無塵紙、熱敏紙）、Nitto-Kohki日東工器（快速接頭）、NIRECO 尼利可（電動執(zhí)行器、傳感器）

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