蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢電子OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯(lián)系人陳小姐15250013623

特　長

• 0nmからの低（殘留）リタデーション測定が可能

• 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能（世界*速相當(dāng)0.1秒以下での処理が可能）

• 駆動部がないため、高い繰り返し再現(xiàn)性を?qū)g現(xiàn)

• 設(shè)定する測定項目が少なく、測定が簡単

• 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ

• Rth測定、全方位角測定が可能（オプションの自動回転傾斜治具が必要です

• 引張試験機(jī)と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能(このシステムは特注対応となります。）

特　長

• リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）

• 主軸方位角（θ[deg.]）

• 楕円率（ε）?方位角（γ）

• 三次元屈折率（NxNyNz）

特　長

• 位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機(jī)能性フィルム

• 樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）

特 點

? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）? 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高? 設(shè)置的測量項目少，測量簡單? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長? Rth測量、全方位角測量（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具? 通過與拉伸試驗機(jī)組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性(本系統(tǒng)屬特注。）

測量項目

? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）? 主軸方位角（θ[deg.]）? 橢圓率（ε）?方位角（γ）? 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

? 什么是RE-200? RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕　樣

 Option? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）

? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

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