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產(chǎn)品名稱:
量子效率量測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
cp-005
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):477
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
藉由**量子效率量測(cè)內(nèi)部量子效率、外部量子效率。
可量測(cè)粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。
采用多通道分光光譜儀，可大幅降低紫外波長(zhǎng)的雜散光。
搭配積分半球系統(tǒng)(HalfMoon)，可消除再激發(fā)的螢光發(fā)光。
激發(fā)光源采用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長(zhǎng)。
使用BaSO4校正精度與量測(cè)再現(xiàn)性。
備有可自動(dòng)變溫量測(cè)(～300℃)的溫控套件。(QE-2100)
量子效率量測(cè)系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
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藉由**量子效率量測(cè)內(nèi)部量子效率、外部量子效率。
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可量測(cè)粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。
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采用多通道分光光譜儀，可大幅降低紫外波長(zhǎng)的雜散光。
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搭配積分半球系統(tǒng)(HalfMoon)，可消除再激發(fā)的螢光發(fā)光。
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激發(fā)光源采用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長(zhǎng)。
-
使用BaSO4校正精度與量測(cè)再現(xiàn)性。
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備有可自動(dòng)變溫量測(cè)(～300℃)的溫控套件。(QE-2100)
系統(tǒng)構(gòu)成圖
產(chǎn)品規(guī)格
降低雜散光的多通道分光光譜儀
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波長(zhǎng)范圍
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250nm ～800nm (視光譜儀規(guī)格)
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光譜儀分光元件
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全息成像光柵、F=3、f=135mm
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波長(zhǎng)精度
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±0.3 nm
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感光元件
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電子冷卻型CCD影像感測(cè)器
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感光元件解析能力
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1.2nm / pixel
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受光光纖
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石英制光纖、外層金屬包覆、固定口徑φ12mm
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激發(fā)光源系統(tǒng)
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激發(fā)光源套件
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250nm ～800nm (視光譜儀規(guī)格)
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激發(fā)波長(zhǎng)范圍
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全息成像光柵、F=3、f=135mm
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波長(zhǎng)掃描方式
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±0.3 nm
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其它
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積分半球設(shè)備(HalfMoon)
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φ150mm
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電源
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消耗電力
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700VA
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AC輸入
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100V ±10% 50 / 60Hz
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量測(cè)范圍