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產(chǎn)品名稱:
低相位差高速檢測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào):
cp-001
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):520
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
可測(cè)量從0nm開(kāi)始的低相位差(殘留應(yīng)力)。
檢測(cè)光學(xué)軸的同時(shí)，同步高速測(cè)量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同時(shí)量測(cè))
偏光檢測(cè)儀無(wú)任何驅(qū)動(dòng)元件干擾，可提高再現(xiàn)性量測(cè)精度。
無(wú)需復(fù)雜參數(shù)設(shè)定，操作簡(jiǎn)單易懂。
550nm以外，亦可支援其它波長(zhǎng)量測(cè)。
Rth量測(cè)、全角度量測(cè)。(需搭配自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜裝置)
搭配拉力測(cè)試機(jī)可同時(shí)量測(cè)薄膜偏光特性與光彈性。(特殊規(guī)格)
低相位差高速檢測(cè)設(shè)備
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
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可測(cè)量從0nm開(kāi)始的低相位差(殘留應(yīng)力)。
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檢測(cè)光學(xué)軸的同時(shí)，同步高速測(cè)量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同時(shí)量測(cè))
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偏光檢測(cè)儀無(wú)任何驅(qū)動(dòng)元件干擾，可提高再現(xiàn)性量測(cè)精度。
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無(wú)需復(fù)雜參數(shù)設(shè)定，操作簡(jiǎn)單易懂。
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550nm以外，亦可支援其它波長(zhǎng)量測(cè)。
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Rth量測(cè)、全角度量測(cè)。(需搭配自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜裝置)
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搭配拉力測(cè)試機(jī)可同時(shí)量測(cè)薄膜偏光特性與光彈性。(特殊規(guī)格)
量測(cè)項(xiàng)目
量測(cè)原理
RE-100，系采用光結(jié)晶像素與CCD感光元件所構(gòu)成的偏光檢測(cè)儀。搭配帶有穿透率特性的各種偏光元件，可以高速同時(shí)進(jìn)行相位差與光學(xué)軸的量測(cè)。 CCD感光元件會(huì)自動(dòng)擷取經(jīng)過(guò)偏光后所呈現(xiàn)的畫面進(jìn)行解析。相較以往，不需要再使用任何的驅(qū)動(dòng)元件來(lái)尋找偏光后的受光強(qiáng)度。不但可提高再現(xiàn)性的精度、更具備長(zhǎng)時(shí)間使用的安定性。
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品尺寸
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*小10×10mm ～ *大100×100mm
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量測(cè)波長(zhǎng)
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550nm (標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)*1
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相位差量測(cè)范圍
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約0nm ～ 約10μm
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相位差量測(cè)精度
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0.05nm (3σ)*2
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光學(xué)軸量測(cè)精度
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0.05°(3σ)*2
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解析元件
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偏光檢測(cè)儀
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量測(cè)口徑
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2.2mm×2.2mm
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通訊介面
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100W 鹵素?zé)艋騆ED光源
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尺寸
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300(W) × 560(H) ×430(D) mm
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重量
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約20 kg
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*1 可選擇其他波長(zhǎng)
*2 量測(cè)水晶波長(zhǎng)板之精度(約55nm，2枚型)
應(yīng)用范圍
■相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機(jī)能性薄膜、
■樹(shù)脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應(yīng)力)
量測(cè)范例
■ 視野角改善膜A
■ 視野角改善膜B
選配附件
自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜裝置