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產品名稱:
液晶層間隙(Cell gap)量測設備
產品型號:
以穿透、半穿透方式量測TFT、STN，以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶，也支援反射型TF
產品展商:
OTSUKA大冢光學
折扣價格:
0.00 元
關注指數:501
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以穿透、半穿透方式量測TFT、STN，以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。視用途，從研發(fā)到品管皆有完整對應機種。
除檢測液晶層間隙(Cell gap)，也可量測液晶面板及液晶材料相位差。橢圓率、方位角等偏光解析，光學軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測裝置。
液晶層間隙(Cell gap)量測設備
的詳細介紹
產品特點
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以穿透、半穿透方式量測TFT、STN，以及不同驅動模式的VA、IPS及強誘電性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。視用途，從研發(fā)到品管皆有完整對應機種。
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除檢測液晶層間隙(Cell gap)，也可量測液晶面板及液晶材料相位差。橢圓率、方位角等偏光解析，光學軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測裝置。
量測項目
產品規(guī)格
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樣品對應尺寸
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20mm×20mm ～大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)
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液晶層間隙量測范圍
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0.1μm ～ 數十μm
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液晶層間隙量測再現性
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±0.005μm
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檢測器
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分光光譜儀
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量測波長范圍
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400 ～ 800nm
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光學系統
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偏光光學系統
消光率10-5方解石偏光片(Gran-tomson prism)
自動旋轉(角度 精度0.1°)
自動裝卸裝置
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量測口徑
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φ2, 5, 10 (mm)
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光軸傾斜角度
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-10 ～ 45°(選配功能)
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重量
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約60kg
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光學配件
相位差膜,橢圓膜,偏光膜,液晶顯示器材料